在半导体生产流程中,老化测试是确保芯片可靠性的最后一道关键防线。这个环节需要通过专门设计的老化测试板(Burn-in Board),在模拟高温、高电压等高应力环境下,加速剔除早期失效的芯片。
这是半导体产品品质认证中不可或缺的环节,尤其在航天、工业控制、人工智能加速器和服务器平台等对长期稳定性要求极高的领域尤为重要。
01 老化测试原理
半导体器件的失效模式遵循典型的“浴盆曲线”分布,即在产品生命周期的早期和晚期,失效率都会显著升高。
老化测试的核心目的,就是在出厂前主动激发并剔除那些存在潜在缺陷、会在早期失效的芯片。
为了实现这一目标,老化板需要将被测芯片(DUT)与老化测试系统连接,在远高于正常工作条件的环境中,对其施加温度、电压、电流等电热应力,使其潜在的缺陷加速暴露。

02 半导体老化板的关键技术环节
半导体老化板并非标准化的通用产品,其设计与制造是一项高度定制化的系统工程,每一个环节都直接关系到最终测试的准确性与可靠性。
核心设计考量 在于为芯片创造一个可控的、高强度的工作环境。这要求设计者不仅要精通电路原理,还要对热力学、结构力学有深刻理解。
一个完整的老化板设计服务包含电性模拟分析,以确保高负载下的信号与电源完整性;以及热设计模拟,以优化散热效率并避免热应力导致的形变问题。
材料与制造工艺 的选择同样苛刻。为了保证在长时间高温高压下稳定工作,老化板需采用高可靠性的基板材料、耐受高温的元器件以及特殊规格的连接器。
在制造阶段,高精度的SMT(表面贴装技术)和严苛的检验流程是基本要求。一些针对大功率器件的老化板,甚至需要集成独立的散热平台和水冷系统,以满足单工位数百瓦的散热需求。

03 SMT/PCBA工艺在老化板制造中的核心作用
作为专业的SMT贴片加工厂,我们深知,将优秀的设计图纸转化为一块性能稳定的老化板,其核心在于对表面组装技术的精湛把控。与普通消费类PCB不同,老化板对工艺可靠性的要求近乎严苛。
全流程工艺控制 是基础。一块复杂的老化板通常采用高密度、多层的PCB设计,其组装可能涉及双面全SMD(表面贴装器件)或混装工艺。
我们必须精确规划焊接流程,例如,对于双面贴装的板卡,需要仔细设计焊接顺序,确保在第二次回流焊时,已焊接面的元器件不会因二次受热而脱落。
针对性的工艺强化 是关键。鉴于老化板将长期工作在高温环境(通常远高于常规电子产品的工作温度),我们在制造过程中会执行一系列强化措施。

表格:针对不同老化板需求的SMT/PCBA工艺要点对比
| 关键考量维度 | 常规SMT工艺 | 针对老化板的高可靠性SMT工艺 |
|---|---|---|
| 焊接材料选择 | 标准无铅锡膏 | 高可靠性、抗疲劳、高熔点特种锡膏 |
| 焊后检验标准 | 常规AOI(自动光学检测)与功能测试 | AOI+飞针测试+X-ray检测+高低温循环后复查 |
| 清洁度控制 | 根据客户要求选择清洗与否 | 强制性彻底清洗,避免高温下助焊剂残留物引发漏电或腐蚀 |
| 工艺验证 | 依据IPC标准 | 额外模拟老化板实际工况进行前期工艺验证 |
04 如何解决老化板制造中的独特挑战
在老化板的生产中,会面临一些通用电子产品制造中不常见的挑战。其中,热管理和结构应力是最为突出的两个难题。
长期高温循环会使PCB板材、元器件和焊点产生不同程度的膨胀与收缩。如果热设计或材料选择不当,累积的热机械应力将导致焊点开裂、PCB变形,最终引发间歇性或永久性失效。
接触可靠性是另一大考验。老化板上通常安装有大量高精密的测试插座(Socket),用于承放待测芯片。这些插座的每个引脚都必须保证在数百度高温下,与芯片和PCB之间仍保持稳定、低阻的电性接触。
专业的制造商会通过制作专用测试板进行接触验证前测,在客户芯片到位前就提前排除潜在的接触不良风险。

05 从设计到验证的一站式方案
面对这些复杂挑战,选择一家能够提供从设计到制造、再到验证的一站式服务的合作伙伴至关重要。这不仅能大幅缩短开发周期,更能确保各环节的无缝衔接,最终交付一个性能可靠的整体解决方案。
我们的服务贯穿了老化板从无到有的全过程。从初期的电路与架构规划开始,我们便介入进行可制造性分析,在设计源头规避后续的工艺风险。
在制造环节,我们依托高精度SMT产线、严格的环境控制和完备的质量检测体系,确保每一块老化板都达到设计预期。最后,我们能够提供初步的验证支持,帮助客户快速完成导入调试。
对于追求更高效率和成本效益的客户,我们还可以提供通用型老化板设计思路。通过研究让同种封装尺寸的不同功能芯片使用同一种老化板,可以显著减少硬件成本和换线时间,从而提升整个老化测试流程的效率。
在芯片测试实验室里,技术人员正将新一批芯片装入由1943科技生产的老化板。整个测试舱将在未来72小时内,持续维持125℃的高温,并通过老化板上的电路,向每一颗芯片施加满负荷的运行指令。
这些电路和焊点在持续高温下的稳定性,将直接决定芯片早期失效筛选的准确率,最终保障成千上万台数据中心的稳定运行。





2024-04-26

