半导体老化测试的关键：高效老化板的选择与应用

在半导体技术迭代加速的今天，如何确保芯片在极端工况下的可靠性成为行业焦点。深圳市一九四三科技有限公司凭借 13 年电子制造经验，深度整合半导体测试技术，为客户提供从研发验证到量产交付的全流程老化解决方案。

一、老化测试：半导体可靠性的核心防线

半导体老化测试通过模拟高温、高压、高频等极端环境，加速暴露器件潜在缺陷。据行业数据显示，科学的老化测试可使产品现场故障率降低 73%。我司采用 HTGB（高温栅极偏置）测试技术，针对 MOSFET、IGBT 等功率器件，通过 125℃以上高温环境与正负栅极偏压应力，验证器件在严苛条件下的长期稳定性。

测试核心优势：

• 双模式验证：正偏压测试栅氧可靠性，负偏压评估雪崩击穿特性
• 自动化集成：实时数据采集系统，支持 168-2000 小时长时间测试
• 多场景适配：兼容 TO-220/TO-247 等 20 + 种封装形式，覆盖 0.35μm 至 10nm 制程

二、高效老化板的三大选择标准

老化板作为测试系统的核心载体，其性能直接影响测试结果的准确性。一九四三科技从材料、结构、工艺三方面构建品质壁垒：

1. 基材选型：采用 FR-4 高频板材，配合纳米级铜箔处理技术，确保 150℃高温下信号传输稳定
2. 结构设计：矩阵式 IC 插座布局，支持 0.35mm 超细间距器件测试，兼容 BGA/QFP 等复杂封装
3. 工艺保障：双波峰焊 + AOI 全检工艺，焊盘附着力≥3.5N/cm，满足 50 万次插拔寿命要求

三、一九四三科技老化测试解决方案

依托 5000㎡智能工厂与专业技术团队，我们提供 "测试 + 制造" 一体化服务：

技术支撑：

• 2 条 DIP 插件线 + 550KG 级双波峰焊设备，实现测试板快速制板
• 1000㎡恒温恒湿仓储，常备 2000 + 型号老化测试座
• 专利级自动化测试系统，支持多工位并行测试，效率提升 40%

服务特色：

• 全生命周期覆盖：从 BOM 优化、测试程序开发到失效分析的一站式服务
• 快速交付能力：常规订单 48 小时交付，紧急订单可加急处理
• 行业深度适配：成功应用于 5G 基站、新能源汽车、医疗设备等领域，累计服务 2000 + 客户

四、行业趋势与未来展望

随着 5G、AIoT 技术的普及，半导体器件正面临更复杂的应用场景。一九四三科技持续投入研发，重点突破：

• 第三代半导体碳化硅（SiC）器件老化技术
• 基于 AI 算法的预测性维护系统
• 符合车规级 AEC-Q100 标准的测试流程

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官网：www.1943pcba.com